·使用了的和多用途的x射線資料模式：采用康普頓常態(tài)化校正方法：可以利用“內(nèi)部標準”來進行定量分析，而不需要進行的校正。基本參數(shù)：采用半定量分析方式，適合于檢驗各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。實驗校正法：利用“校正曲線”進行校正，允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線。
·可以很容易地加入新的元素成份，很容易進行校正。因此，Innov-X a-4000分析儀能夠滿足您當前和未來的需求。
·可以在顯示熒幕上觀看光譜。
·通過對比光譜進行對比分析，顯示出分析結(jié)果，分析結(jié)果將反映是否符合相應標準的情況。
·通過更新參數(shù)或更換模式，可以利用存儲的試驗結(jié)果再次進行新的試驗。
·資料安全性：資料以二進位格式存儲于設備中，以資料的完整性。

檢測范圍 　　
品位0.1-95% 硅 0.01-0.1% 磷 0.01-0.9% 　　
鈦 0.1-45% 鋁 0.01-5% 　　
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