探針的質(zhì)量對整個(gè)測試插座、探針卡來說非常重要，雖然現(xiàn)在國內(nèi)部分廠商已經(jīng)開始生產(chǎn)半導(dǎo)體測試探針，部分廠商研發(fā)的時(shí)間也不算短，但是國內(nèi)的原材料和工藝不達(dá)標(biāo)，做出來的產(chǎn)品非常差。因此業(yè)內(nèi)通?？紤]從歐美或者韓國供應(yīng)商處進(jìn)口產(chǎn)品，降低探針出現(xiàn)問題對測試產(chǎn)生的影響?！爸械投丝梢陨a(chǎn)，依賴進(jìn)口，這就是目前的狀況，短期內(nèi)還無法改變?！蹦程结槒S商表示，針對晶圓測試，也就是探針卡用的探針，現(xiàn)在國內(nèi)廠商都無法生產(chǎn)，只能進(jìn)口國外廠商的產(chǎn)品，相當(dāng)于一個(gè)組裝廠或是貿(mào)易商。

一般來說長的探針比較容易彎曲而且偏斜比較大，這樣的情況往往會影響測量的準(zhǔn)確度，所以我們需要選擇一款短的探針，避免上述情況的發(fā)生，從而實(shí)現(xiàn)測量的高度。應(yīng)用時(shí)將探針與加長桿連接在一起，而在連接點(diǎn)處又是容易出現(xiàn)彎曲和變形的，連接點(diǎn)就相當(dāng)于選擇了一款長的探針，彎曲和變形是會影響探針的度的，有時(shí)甚至?xí)霈F(xiàn)不能進(jìn)行正確測量的情況，所以避免少的節(jié)點(diǎn)是有必要的。

測試線和接頭不會因拉拽、按壓和穿刺等日常摩擦而性能下降。測試線兩端應(yīng)該具有設(shè)計(jì)良好的防應(yīng)力護(hù)套。測試探針應(yīng)該是經(jīng)過硬化處理的金屬，可經(jīng)得起反復(fù)連接，并且每次都能傳送準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。與廉價(jià)材料相比，經(jīng)過特殊制造的多股鍍錫鈹銅導(dǎo)線可提供靈活性、長期耐用性、的導(dǎo)電性和精度。其它因素包括探針和接頭內(nèi)部焊接質(zhì)量和材料的溫度范圍。