SEM+EDS分析：
放大倍數(shù): 5~30萬倍
解 析 度 : 3 nm
分析元素范圍: Be(4)~U(92)
大樣品尺寸: 200 mm
分析對象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件.
功能與目的： 微區(qū)成分分析
失效模式/機制分析
斷口形貌觀察等

優(yōu)爾鴻信檢測昆山檢測中心SEM+EDS分析通過CNAS認(rèn)可，可執(zhí)行的測試標(biāo)準(zhǔn)GB/T17359-2012, JY/T0584-2020,JEDEC-KESD22-A121A-2008(2014)等

掃描電鏡分析（SEM+EDS)可實現(xiàn)金屬、陶瓷、半導(dǎo)體、聚合物、復(fù)合材料等幾乎所有固體材料的表面形貌、斷口形貌、界面形貌等顯微結(jié)構(gòu)分析，借助EDS還可進行微區(qū)元素含量分析