【納米壓痕測(cè)試】
服務(wù)背景：隨著MEMS器件和納米涂層廣泛應(yīng)用，傳統(tǒng)力學(xué)測(cè)試無(wú)法滿(mǎn)足微區(qū)性能評(píng)估需求。
檢測(cè)重要性：直接獲取薄膜/涂層的硬度、彈性模量，預(yù)防芯片封裝分層失效。
檢測(cè)周期：3-5個(gè)工作日（含制樣）。

廣電計(jì)量能力：
1、配備的納米壓痕儀，載荷分辨率1nN；
2、完成某GPU散熱涂層測(cè)試（硬度8.2±0.3GPa，模量120±5GPa）；

廣電計(jì)量是一家全國(guó)布局、綜合性的國(guó)有第三方計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，技術(shù)服務(wù)保障網(wǎng)絡(luò)覆蓋全國(guó)，化學(xué)分析實(shí)驗(yàn)室分布在廣州、無(wú)錫、上海、天津、重慶等五地，方便客戶(hù)就近檢測(cè)服務(wù)。

【同步輻射XRD檢測(cè)】
背景：同步輻射光源亮度比常規(guī)X光高10?倍，1980年代開(kāi)啟材料動(dòng)態(tài)結(jié)構(gòu)研究新紀(jì)元。
重要性：捕捉電池充放電、催化反應(yīng)中的瞬態(tài)相變過(guò)程。
產(chǎn)品類(lèi)型：鋰離子電池正極、燃料電池電解質(zhì)。

廣電計(jì)量可提供一站式同步輻射XRD檢測(cè)-高分辨原位晶體結(jié)構(gòu)演變分析檢測(cè)服務(wù)。

【氣相色譜測(cè)試】
背景：1941年Martin和Synge提出分配色譜理論，1952年James開(kāi)發(fā)首臺(tái)氣相色譜儀，成為有機(jī)化合物分離分析的基石。
重要性：解決復(fù)雜混合物中揮發(fā)性組分的分離與定量難題，支撐環(huán)境、食品、醫(yī)藥等領(lǐng)域合規(guī)性檢測(cè)。
產(chǎn)品類(lèi)型：石化產(chǎn)品（芳烴含量）、藥品溶劑殘留、食品添加劑。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D2887（沸程分布）、GB 5009.262（食品中溶劑殘留）。

廣電計(jì)量能力：
1、配置Agilent 8890/5977B GC-MS，檢出限達(dá)0.01ppm；
2、建立VOCs“指紋圖譜”數(shù)據(jù)庫(kù)，助力污染源追溯；
3、通過(guò)FDA 21 CFR Part 11合規(guī)認(rèn)證。