半導(dǎo)體測試探針的主要應(yīng)用領(lǐng)域包括芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證、晶圓測試和半導(dǎo)體成品測試。它起著連接芯片/晶圓與測試設(shè)備，并進(jìn)行信號傳輸?shù)暮诵淖饔?，對于半?dǎo)體產(chǎn)品的質(zhì)量控制具有重要意義。

由于半導(dǎo)體產(chǎn)品的生產(chǎn)過程十分復(fù)雜，任何一個環(huán)節(jié)出現(xiàn)錯誤都可能導(dǎo)致大量產(chǎn)品質(zhì)量不合格，甚至對終的應(yīng)用產(chǎn)品的性能產(chǎn)生重大影響。因此，測試在半導(dǎo)體產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中具有非常重要的地位，貫穿于半導(dǎo)體產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、制造、包裝和應(yīng)用的整個過程中。

隨著自然資源的日益枯竭和環(huán)境保護(hù)意識的增強(qiáng)，金屬回收行業(yè)逐漸成為一種重要的經(jīng)濟(jì)產(chǎn)業(yè)。金屬回收不僅能減少資源浪費(fèi)和環(huán)境污染，還可以提供再利用的原材料，降低生產(chǎn)成本。在金屬回收市場中，鍍金探針作為含金屬成分較高的物品，備受關(guān)注