探針的質(zhì)量對整個測試插座、探針卡來說非常重要，雖然現(xiàn)在國內(nèi)部分廠商已經(jīng)開始生產(chǎn)半導(dǎo)體測試探針，部分廠商研發(fā)的時間也不算短，但是國內(nèi)的原材料和工藝不達(dá)標(biāo)，做出來的產(chǎn)品非常差。因此業(yè)內(nèi)通?？紤]從歐美或者韓國供應(yīng)商處進(jìn)口產(chǎn)品，降低探針出現(xiàn)問題對測試產(chǎn)生的影響。“中低端可以生產(chǎn)，依賴進(jìn)口，這就是目前的狀況，短期內(nèi)還無法改變?！蹦程结槒S商表示，針對晶圓測試，也就是探針卡用的探針，現(xiàn)在國內(nèi)廠商都無法生產(chǎn)，只能進(jìn)口國外廠商的產(chǎn)品，相當(dāng)于一個組裝廠或是貿(mào)易商。

鍍金層延展性好、易拋光、耐高溫，具有很好的抗變色性能。在銀層上鍍金可以防止銀的變色;鍍金具有較低的接觸電阻、導(dǎo)電性能良好、易于焊接、耐腐蝕性強(qiáng)、并具有一定的耐磨性(指硬金)，因而在精密儀器儀表、印制電路板、集成電路、管殼、電接點等方面有著廣泛的應(yīng)用。

一般來說長的探針比較容易彎曲而且偏斜比較大，這樣的情況往往會影響測量的準(zhǔn)確度，所以我們需要選擇一款短的探針，避免上述情況的發(fā)生，從而實現(xiàn)測量的高度。應(yīng)用時將探針與加長桿連接在一起，而在連接點處又是容易出現(xiàn)彎曲和變形的，連接點就相當(dāng)于選擇了一款長的探針，彎曲和變形是會影響探針的度的，有時甚至?xí)霈F(xiàn)不能進(jìn)行正確測量的情況，所以避免少的節(jié)點是有必要的。