佳放置條件
一、溫度：5～40℃；
二、相對(duì)濕度：不大于85%；
三、氣壓：86～106kPa；
四、電源：交流電壓220±22V或380±38V 頻率50±0.5Hz；
五、周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)，無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)影響，無(wú)腐蝕性氣體；
六、無(wú)陽(yáng)光直接照射或其他冷、熱源直接輻射；
八、周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周?chē)諝庑枰獜?qiáng)制對(duì)流時(shí)，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。

使用注意事項(xiàng)
1、電源設(shè)備：應(yīng)在供電線路中裝有超負(fù)荷的保險(xiǎn)絲裝置，供此箱特種，并具有良好接地裝置。
2、試料準(zhǔn)備：將試品逐一編號(hào)后，將試品放置于試品轉(zhuǎn)盤(pán)上，彼此以不相互接觸和碰撞為宜。
3、待一切準(zhǔn)備就緒，即關(guān)上箱門(mén)。
關(guān)閉控制系統(tǒng)各個(gè)開(kāi)關(guān)，將電源插撲插上打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)轉(zhuǎn)盤(pán)即自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，同時(shí)控制系統(tǒng)的電源指示燈即亮，若須升溫打開(kāi)開(kāi)關(guān)(即高溫開(kāi)關(guān)和低溫開(kāi)關(guān))，然后調(diào)節(jié)全自動(dòng)控制系統(tǒng)
5、儀器外殼有效接地，以使用安全。
6、儀器應(yīng)放在通風(fēng)良好的室內(nèi)水平位置，在其周?chē)豢煞胖靡兹家妆锲贰?br /> 7、應(yīng)在供電線路中安裝鐵殼的閘刀開(kāi)關(guān)一只，供此箱特種，在外殼接地通電前請(qǐng)檢查本箱的電器性能，并應(yīng)注意是否有斷路或漏電現(xiàn)象,本儀器無(wú)防爆裝置，不得放入易燃易爆物品干燥。
8、箱內(nèi)物品放置切勿過(guò)擠，留出空間，以利熱空氣循環(huán)。
9、非工作人員請(qǐng)匆操作。

易于編制循環(huán)程序或直接運(yùn)行Q-FOG自帶的測(cè)試程序?？梢酝瓿稍S多循環(huán)腐蝕試驗(yàn)，如Prohesion試驗(yàn)、ASTM B117、ASTM G85、BS3900 F4和F9、DIN50.907和ISO9227等試驗(yàn)。內(nèi)置以下全部或部分循環(huán)程序：
1、 循環(huán)A， ASTM B117（NSS）
2、 循環(huán)B， Prohesion
3、 循環(huán)C，CCT-1
4、 循環(huán)D，CCT-IV
5、 循環(huán)E，GM9540P/B
6、 循環(huán)F，ASTM B368（CASS）

技術(shù)指標(biāo)：
1、溫度范圍：-60℃～150℃
2、濕度范圍：30～98%RH（溫度在25℃～80℃時(shí)）
3、溫度均勻度：≤2℃ （空載時(shí)）
4、濕度均勻度：+2、-3%RH
5、溫度波動(dòng)度：±0.5℃ （空載時(shí)）
6、濕度波動(dòng)度：±2%
7、溫度偏差：±2℃
8、濕度偏差：±2%
9、降溫速率：0.7～1.0℃/min
10、升溫速度：1.0～3.0℃/min
11、時(shí)間設(shè)定范圍：1～9999H
12、濕度交變范圍：40～98%RH

客戶(hù)售前階段基本沒(méi)有劃分，各個(gè)分院、所和實(shí)體子公司的領(lǐng)導(dǎo)非常關(guān)注銷(xiāo)售信息（包括：應(yīng)收款、回款），但這些信息的只能是不定期從財(cái)務(wù)部門(mén)獲得，缺乏從業(yè)務(wù)層面上對(duì)銷(xiāo)售過(guò)程進(jìn)行有效的、實(shí)時(shí)的、全面的監(jiān)控6、沒(méi)有對(duì)整個(gè)的銷(xiāo)售過(guò)程進(jìn)行梳理；導(dǎo)致多數(shù)銷(xiāo)售處于盲目狀態(tài)，使當(dāng)前銷(xiāo)售機(jī)會(huì)的跟蹤沒(méi)有形成一套可行的機(jī)制。

加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。