非金屬礦石分析儀是一種用于分析非金屬礦石樣品中元素和化學組成的儀器設(shè)備。它主要通過光譜分析、電化學分析、熒光分析、質(zhì)譜分析等技術(shù)手段，對礦石樣品中的元素種類和含量進行定量或定性分析。 非金屬礦石分析儀通常包括樣品制備設(shè)備、光譜儀、電化學分析儀、質(zhì)譜儀等關(guān)鍵部件。使用時，將礦石樣品進行研磨、破碎和粉末化處理，然后將樣品放入儀器中進行分析。根據(jù)不同的分析要求，可以選擇不同的分析技術(shù)和儀器。

以下是一些常見的非金屬礦石檢測設(shè)備：
X 射線熒光光譜儀（XRF）：
工作原理：當 X 射線照射到礦石樣品時，會激發(fā)樣品中元素原子的內(nèi)層電子，使其躍遷至高能級。當這些高能級電子回落到低能級時，會釋放出具有特定能量的特征 X 射線。探測器捕獲這些特征 X 射線并將其轉(zhuǎn)換成電信號，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)通過分析電信號得到礦石樣品中各種元素的含量信息。
特點：可快速同時分析多種元素，從鈉（Na）到鈾（U）的元素范圍均可檢測，適用于各種形態(tài)的樣品，包括粉末、固體和液體，且無損檢測，不會對樣品造成損害。例如，天瑞儀器的 EDX 4500H 型 X 熒光光譜儀，具有數(shù)字多道技術(shù)，測試速度快、精度高，能有效分析非金屬礦石中的多種元素。
應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于礦產(chǎn)勘探、礦石品位分析、選礦過程控制以及環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域，可確定礦石的成分和品位，幫助指導(dǎo)開采和加工過程。

紅外光譜儀：
工作原理：利用物質(zhì)分子對紅外光的吸收特性進行分析。不同的分子結(jié)構(gòu)會對特定波長的紅外光產(chǎn)生吸收，通過測量樣品對紅外光的吸收光譜，可以獲得分子結(jié)構(gòu)的信息，進而識別礦石中的礦物成分。
特點：能提供豐富的分子結(jié)構(gòu)信息，可用于定性分析非金屬礦石中的有機物、碳酸鹽、硫酸鹽等礦物成分，操作相對簡便，分析速度較快。
應(yīng)用：常用于非金屬礦石中黏土礦物、有機質(zhì)等成分的分析，在陶瓷原料、石墨礦、高嶺土等礦產(chǎn)的檢測中應(yīng)用較多。