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198.00元膜結(jié)構(gòu)車棚的合理布局一起也關(guān)系到整個膜結(jié)構(gòu)車棚的漂亮,合理布局膜結(jié)構(gòu)車棚至關(guān)重要.因而膜結(jié)構(gòu)車棚的規(guī)劃人員,需求依據(jù)用戶的現(xiàn)場來做合理規(guī)劃、合理裝置,確保用戶安全運用.這樣才可以..04月06日 -
5200.00元網(wǎng)架結(jié)構(gòu)的合理性 工期緊，交叉作業(yè)多，由于現(xiàn)場作業(yè)區(qū)域內(nèi) 工程體量大，并且該工程工期非常緊張，同時施工現(xiàn) 場分包隊伍多、交叉作業(yè)多弧形網(wǎng)架安裝方案提升設(shè)備分別 固定于混凝土08月11日
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關(guān)于衛(wèi)生用品進(jìn)口報關(guān)報檢的話，必須要辦理毒理性檢測報告，辦理是需要國外先郵寄樣品，一包左右，然后我們安排辦理。 關(guān)于衛(wèi)生用品進(jìn)口報關(guān)辦理？進(jìn)口衛(wèi)生巾報關(guān)流程以及毒理性檢09月14日
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沈陽金澤裝飾專注于餐飲空間設(shè)計與裝修。從專業(yè)的角度上講，餐飲店設(shè)計在現(xiàn)代的新餐飲崛起以后越來越被餐飲從業(yè)者重視。在以前大家更多關(guān)注的是菜好不好吃，服務(wù)貼不貼心，而如今隨09月01日
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20000.00元企業(yè)的獎金制度對于營銷過程來講，起到承接企業(yè)營銷思路與戰(zhàn)略定位的關(guān)鍵作用，是聯(lián)系企業(yè)與經(jīng)銷商之間的重要紐帶，一個適合自己企業(yè)的獎金制度，可以有效的聯(lián)系產(chǎn)品與企業(yè)管理，是05月09日
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15.00元籌本是古代的算具。古代沒有計算器，一般用竹木削制成籌來進(jìn)行運算、善計者可以不依賴算具求得結(jié)果，因此籌引申為籌謀、籌劃?！稘h書.高帝汜》記劉邦對張良的評價時說“夫運籌帷幄之05月02日
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電子元器件制造?藝質(zhì)量?致性是電子元器件滿足其用途和相關(guān)規(guī)范的前提。?量假冒翻新元器件充斥著元器件供應(yīng)市場，如何確定貨架元器件真?zhèn)问抢_元器件使用方的?大難題。廣電計量DPA分析測..09月25日
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根據(jù)DPA結(jié)果剔除不合格批次，保留合格批次。破壞性物理分析（DPA）是高可靠工程使用的元器件質(zhì)量保證重要方法之一，主要用于元器件批質(zhì)量的評價，也適用于元器件生產(chǎn)過程中的質(zhì)量監(jiān)控。 DPA可..09月25日
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廣電計量集成電路失效分析實驗室，配備了完善的DPA分析測試設(shè)備（如3D超高解析顯微鏡、X射線透射儀、超聲掃描顯微鏡、場發(fā)射掃描電子顯微鏡、TEM透射電子顯微鏡、水汽分析儀、各類檢漏儀等）..09月25日
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廣電計量提供覆蓋被動元件、分立器件和集成電路在內(nèi)的元器件破壞性物理分析(DPA)服務(wù)，其中針對先進(jìn)半導(dǎo)體?藝，具備覆蓋7nm以下芯片DPA分析能?，將問題鎖定在具體芯片層或者μm范圍內(nèi)，針對..09月25日
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廣電計量破壞性物理分析(DPA)測試適用于集成電路芯片、電子元件、分立器件、機電類器件、線纜及接插件、微處理器、可編程邏輯器件、存儲器、AD/DA、總線接?類、 通?數(shù)字電路、模擬開關(guān)、模..09月25日
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廣電計量提供覆蓋被動元件、分立器件和集成電路在內(nèi)的元器件破壞性物理分析(DPA)服務(wù)，其中針對先進(jìn)半導(dǎo)體?藝，具備覆蓋7nm以下芯片DPA分析能?，將問題鎖定在具體芯片層或者μm范圍內(nèi)，針對..09月25日
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廣電計量破壞性物理分析(DPA)測試適用于集成電路芯片、電子元件、分立器件、機電類器件、線纜及接插件、微處理器、可編程邏輯器件、存儲器、AD/DA、總線接?類、 通?數(shù)字電路、模擬開關(guān)、模..09月25日
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廣電計量提供覆蓋被動元件、分立器件和集成電路在內(nèi)的元器件破壞性物理分析(DPA)服務(wù)，其中針對先進(jìn)半導(dǎo)體?藝，具備覆蓋7nm以下芯片DPA分析能?，將問題鎖定在具體芯片層或者μm范圍內(nèi)，針對..09月25日
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廣電計量集成電路失效分析實驗室，配備了完善的DPA分析測試設(shè)備（如3D超高解析顯微鏡、X射線透射儀、超聲掃描顯微鏡、場發(fā)射掃描電子顯微鏡、TEM透射電子顯微鏡、水汽分析儀、各類檢漏儀等）..09月25日
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廣電計量DPA測試以預(yù)防失效為目的，防止有明顯或潛在缺陷的元器件上機使用；確定元器件在設(shè)計和制造過程中存在的偏差和工藝缺陷；評價和驗證供貨方元器件的質(zhì)量；提出批次處理意見和改進(jìn)措施..09月25日
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廣電計量破壞性物理分析(DPA)測試適用于集成電路芯片、電子元件、分立器件、機電類器件、線纜及接插件、微處理器、可編程邏輯器件、存儲器、AD/DA、總線接?類、 通?數(shù)字電路、模擬開關(guān)、模..09月25日
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電子元器件制造?藝質(zhì)量?致性是電子元器件滿足其用途和相關(guān)規(guī)范的前提。?量假冒翻新元器件充斥著元器件供應(yīng)市場，如何確定貨架元器件真?zhèn)问抢_元器件使用方的?大難題。廣電計量DPA分析測..09月25日
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GRGTEST破壞性物理分析(DPA)測試標(biāo)準(zhǔn) ●GJB128A-97半導(dǎo)體分?器件試驗方法 ●GJB360A-96電子及電?元件試驗方法 ●GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序 ●GJB7243-2011軍用電子元器件篩選技術(shù)要..09月25日
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GRGTEST破壞性物理分析(DPA)測試標(biāo)準(zhǔn) ●GJB128A-97半導(dǎo)體分?器件試驗方法 ●GJB360A-96電子及電?元件試驗方法 ●GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序 ●GJB7243-2011軍用電子元器件篩選技術(shù)要..09月25日
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