半導(dǎo)體測試探針的主要應(yīng)用領(lǐng)域包括芯片設(shè)計驗證、晶圓測試和半導(dǎo)體成品測試。它起著連接芯片/晶圓與測試設(shè)備，并進行信號傳輸?shù)暮诵淖饔茫瑢τ诎雽?dǎo)體產(chǎn)品的質(zhì)量控制具有重要意義。

探針結(jié)構(gòu)設(shè)計(如針形)作為半導(dǎo)體試驗設(shè)備的關(guān)鍵部件、針頭材料(如鎢、鷸銅)、彈性大小等都會影響探針的穩(wěn)定性、細微性、信號傳導(dǎo)精度等，從而影響探針的測試精度。

垂直探針可以對應(yīng)高密度信號觸點的待測半導(dǎo)體產(chǎn)品的細間距排列，針尖接觸待測半導(dǎo)體產(chǎn)品所需的縱向位移可以通過針體本身的彈性變形來提供。懸臂探針為探針部提供適當(dāng)?shù)目v向位移，用于通過橫向懸臂接觸待測半導(dǎo)體產(chǎn)品，以避免探針部對待測半導(dǎo)體產(chǎn)品施加過大的針壓。

探針是半導(dǎo)體試驗所需的重要耗材。通過與試驗機、分揀機、探針臺配合使用，可以篩選出產(chǎn)品設(shè)計缺陷和制造缺陷，用于設(shè)計驗證、晶圓試驗和成品試驗。它在確保產(chǎn)品產(chǎn)量、控制成本、指導(dǎo)芯片設(shè)計和工藝改進方面發(fā)揮著重要作用。

鍍金探針廢料的收集是回收過程的首要步驟。廢料可以從電子制造廠、研究機構(gòu)和廢舊電子產(chǎn)品處理中心等渠道獲取。收集過程需要與這些機構(gòu)建立合作關(guān)系，確保廢料的穩(wěn)定供應(yīng)。

在收集到的鍍金探針廢料中，可能包含其他金屬和非金屬雜質(zhì)。因此，分揀是必要的步驟，以便將廢料分類和分離。分揀可以通過人工或自動化設(shè)備進行。人工分揀需要經(jīng)過培訓(xùn)的工作人員，他們根據(jù)廢料的類型和特征進行分類。自動化設(shè)備可以通過傳感器和圖像識別技術(shù)自動分揀廢料。

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